Płytka ewaluacyjna, NB4N527SMNG, rodzaj: Płytka ewaluacyjna

Firma ON Semiconductor opracowała płytkę ewaluacyjną układu NB4N527S dla klientów zainteresowanych samodzielną oceną projektowanego urządzenia. Płytka zapewnia szerokopasmowe środowisko o kontrolowanej impedancji 50 Ω Płytka ewaluacyjna QFN z 16 wyprowadzeniami składa się z czterech warstw i została wyposażona w dzielone (podwójne) zasilanie.

Maksymalna wejściowa częstotliwość zegara do 1,25 GHz
Maksymalna wejściowa szybkość transmisji danych do 2,5 Gb/s
Maksymalne opóźnienie propagacji 500 ps
Maksymalne zakłócenia jitter RMS 2 ps
Maksymalny czas narastania/opadania 300 ps
Pojedyncze zasilanie, VCC = 3,3 V, +/-10%
Wyjścia LVDS z kompensacją temperaturową zgodne z TIA/EIA644
Wewnętrzny rezystor końcowy 50 na styk wejściowy
Zakres VCMR: od GND + 50 mV do VCC 50 mV