Czujnik zbliżeniowy M30 Indukcyjny 20 mm SICK Niewpuszczany 10 → 30 V DC długość 50mm Gwintowany

Typy: M8 do M30
Rozszerzony zakres pomiarowy: Od 2 mm do 20 mm
Konfiguracja elektryczna: DC 3-/4-przewodowy, DC 2-przewodowy
Klasa obudowy: IP 68, IP 69K
Zakres temperatur: Od –40°C do +100°C.
Wytrzymała obudowa ze stali nierdzewnej

Prosty wybór produktów, ponieważ wymagana jest mniejsza liczba wariantów czujników — jeden czujnik pasuje do wielu zastosowań
Stabilne procesy dzięki rozszerzonym, wysoce precyzyjnym zakresom wykrywania, które są dostępne dzięki zastosowaniu najnowszej technologii SICK ASIC
Krótszy czas przestoju maszyny dzięki wydłużeniu okresu eksploatacji czujników, nawet w trudnych warunkach roboczych
Szybka i łatwa instalacja dzięki optycznemu wskaźnikowi regulacji i. nakrętki samokontrujące
Wysoki stopień elastyczności i możliwości komunikacji dzięki IO-Link
Łatwe do wdrożenia warianty specyficzne dla klienta w ramach standardowej oferty produktów

Indukcyjny czujnik zbliżeniowy IMB jest bardzo niezawodny w trudnych warunkach pracy, bez względu na to, czy ma kontakt ze smarami chłodzącymi czy jest używany na zewnątrz. Dzięki rozszerzonym zakresom wykrywania, wysoce precyzyjnym dzięki zastosowaniu TECHNOLOGII SICK ASIC, IMB zapewnia niezawodne i stabilne procesy. Co więcej, jego szerokie limity specyfikacji pozwalają na zastosowanie IMB w zastosowaniach, w których specjalistyczne urządzenia były kiedyś jedynym rozwiązaniem – to ogromna korzyść w zakresie wyboru produktów i magazynowania. Optyczny wskaźnik regulacji i samoblokujące nakrętki pozwalają zaoszczędzić czas podczas pierwszego uruchomienia i pomagają ograniczyć błędy. Komunikacja za pośrednictwem IO-Link jest również możliwa, co zapewnia większą elastyczność i dodatkowe funkcje dla aplikacji automatyzacji. Dzięki szerokiej ofercie standardowych produktów, nawet specjalne urządzenia mogą być szybko i łatwo wprowadzane do działania.

Pomiar prędkości
Monitorowanie transportu materiałów
Monitorowanie otworów tłoków zaworów w układzie centralnego smarowania
Monitorowanie położenia klapy opuszczonej
Pomiar wysokości wózka widłowego w celu zapewnienia wydajnej obsługi produktu z niezawodnością procesu
Wykrywanie skrzydeł drzwi na drzwiach windy
Wykrywanie stref w wałach przenośnika
Określanie położenia na obrotowych drzwiach
Wykrywanie skrzydeł drzwi w drzwiach przesuwanych automatycznie
Monitorowanie prędkości w schodach ruchomych za pomocą indukcyjnych czujników zbliżeniowych
Zadania wykrywania i pozycjonowania w prasach do belowania
Wykrywanie położenia i prędkości w kombajnach
Wykrywanie położenia w kombajnach do zbioru winogron
Zadania wykrywania w ciągnikach lotniczych
Monitorowanie działania zaworu obrotowego podczas zrzutu materiału
Monitorowanie naprężenia taśmy przenośnika
Sterowanie ruchem i położeniem lancy
Sterowanie ruchem i położeniem wewnętrznych części maszyny
Położenie wylotu spalin (góra, dół) w podstawowym piecu tlenowym
Monitorowanie pozycji przechyłu w podstawowym piecu tlenowym

Wykrycie prawidłowego ustawienia dźwigni podczas wypylania
Działanie zaworu obrotowego w układzie przenoszenia pyłu w gazie odlotowym system
Działanie taśmy transportowej w układzie przenoszenia pyłu
Praca wentylatora (obr./min) w osi wirnika w układzie zasilania gazem odlotowym
Położenie przepustnicy wlotowej i wylotowej przy głównych wentylatorach
Określanie położenia siłownika na ścinaniu podczas walcowania proces
Monitorowanie działania pasa w przypadku zasilania węglem i spiekaczem
Monitorowanie działania przenośnika spiekającego w spiekaniu zakład
Ruch i położenie temperatur i próbek
Kontrola ruchu i położenia tańców tlenowych i węglowych
Położenie dachu pieca kadziowego podczas drugiego procesu metalurgii
Położenie ramion elektrod i elektrod w piecu kadziowym
Wykrywanie położenia dachu przy odgazowywaczu próżniowym podczas metalurgii wtórnej
Wykrywanie pozycji reaktora Vessel w odgazowarce Ruhrstahl-Heraeus

Szczegóły produktu obejmują całą rodzinę produktów. Szczegółowe informacje na temat specyfikacji tego konkretnego produktu można znaleźć w arkuszu danych.