Urządzenie Source Meter Keithley kanały: 4 20,2 W 100 nA → 3 A 1 KΩ

Przyrząd do pomiaru źródła (SMU) SourceMeter systemu 2606B oferuje cztery kanały SMU po 20 W w obudowie o wysokości 1U. Przyrząd 2606B, skonstruowany z wykorzystaniem technologii SMU trzeciej generacji firmy Keithley, oferuje połączone funkcje precyzyjnego zasilacza, rzeczywistego źródła prądowego, multimetru cyfrowego 6 cyfry, generatora przebiegów arbitralnych oraz generatora impulsów — wszystko w jednym, ściśle zintegrowanym urządzeniu. W rezultacie otrzymujemy zaawansowane rozwiązanie, które znacznie zwiększa produktywność w zautomatyzowanych, wiążących się z wysokimi wymaganiami badaniach kwalifikacyjnych i produkcyjnych dla urządzeń optoelektronicznych, takich jak diody VCSELEs/laserowe używane w czujnikach 3D, telekomunikacji i diodach LED stosowanych w produktach konsumenckich, samochodach i zintegrowanych urządzeniach, takich jak analogowe układy scalone, ASIC oraz układy typu system-on-a-chip (SOC). Gdy wymagana jest wysoka liczba kanałów SMU, można ułożyć kilka modułów 2606B jeden na drugim bez konieczności stosowania między nimi odstępów termicznych. Wbudowane oprogramowanie oparte na przeglądarce internetowej umożliwia komunikację z przyrządem 2606B za pośrednictwem dowolnego komputera z każdego miejsca na świecie. W przypadku zautomatyzowanych aplikacji systemowych technologia procesora skryptów testowych (TSP®) zastosowana w przyrządzie 2606B umożliwia uruchamianie kompletnych programów testowych z poziomu urządzenia, co pozwala na osiągnięcie najlepszej w branży wydajności. W większych, wielokanałowych układach technologia TSP-Link® firmy Keithley współpracuje z technologią TSP, umożliwiając szybkie, równoległe testowanie typu SMU-per-pin. Każdy model źródła mierzącego 2606B jest zgodny z wiodącym w branży źródłem mierzącym Keithley 2602B System SourceMeter, gdy używane są nowe zakresy.

• Czterokanałowe źródło mierzące w pełnej obudowie stelażowej o wysokości 1U
• Możliwość układania jedno na drugim bez konieczności stosowania odstępów 1U pomiędzy urządzeniami
• Źródło napięciowe/prądowe o bardzo wysokim poziomie integracji oraz przyrząd pomiarowy — zapewnia najlepsze w swojej klasie parametry działania i rozdzielczość 6 cyfry
• Obwiednia napięcia 20 V przy 1 A i 6 V, 3 A, 20 W
• Podstawowa dokładność pomiaru DCV: 0,015%
• Do 28 cyfrowych linii we/wy typu otwarty kolektor
• Wyniki skorelowane z systemowym źródłem mierzącym SourceMeter 2602B
• Technologia TSP umożliwiająca wykorzystanie w przyrządzie pełnych programów testowych w celu uzyskania najlepszej w tej klasie wydajności na poziomie systemu
• Technologia rozszerzenia TSP-Link umożliwiająca wykonanie wielokanałowego testu równoległego bez ramy głównej
• Złącze LAN (LXI-C) na panelu przednim, protokół USB 2.0 TMC488 i cyfrowe interfejsy we/wy
• Wbudowane oprogramowanie oparte na przeglądarce internetowej umożliwia zdalne sterowanie z każdego miejsca na świecie za pomocą dowolnej przeglądarki internetowej i dowolnego komputera

Test funkcjonalny I-V oraz charakterystyka szerokiej gamy urządzeń, takich jak:
• Urządzenia optoelektroniczne
- Lasery o emisji powierzchniowej z pionową wnęką rezonansową (VCSEL), diody laserowe (stosowane w systemach czujników 3D)
- Diody LED o wysokiej jasności (HBLED)
- Wyświetlacze
• Układy o małym stopniu scalenia (SSI) i o dużym stopniu scalenia (LSI)
- Analogowe układy scalone
- Układy scalone częstotliwości radiowej (RFIC)
- Układy scalone przeznaczone dla danego zastosowania (ASIC)
- Układy typu system on a chip (SOC)
• Elementy dyskretne i pasywne
- Czujniki dwuprzewodowe, głowice dyskowe, warystory metalowo-tlenkowe (MOV), diody, diody Zenera, czujniki, kondensatory, termistory
- Trójprzewodowe, małosygnałowe tranzystory bipolarne (BJT), tranzystory polowe (FET) i inne
• Proste układy scalone optoelektroniczne, sterowniki, przełączniki, czujniki, konwertery, regulatory