Zacisk do testów układów scalonych, l. żył: 8, obudowa: SOIC,

Profesjonalne spinki do badań IC ze stykami ze stopów niklu w termoplastycznym odlewie termoplastycznym wysokiej jakości
Funkcje te obejmują wycieranie styków typu "stop-buck" w celu zapewnienia optymalnej niezawodności układu elektrycznego, wytrzymałą sprężynę zapewniającą równomierne ciśnienie kontaktowe oraz otwartą konstrukcję nosową umożliwiającą bezpośredni dostęp do głowic za pomocą wtyków pakietowych Dual-In-Line (DIP).
Grzebień kontaktowy mieści się pomiędzy przewodami zestawu DIP, co eliminuje ryzyko zwarcia elektrycznego
Zaciski testowe mogą być używane ze standardowymi pakietami DIP do 14, 16, 20, 24, 28 i 40 styków
Wysokiej klasy tworzywo termoplastyczne, pozłacane
Materiał styku ze stopu niklu srebrnego
Temperatura pracy od -55°C do +165°C.
Palność UL 94 V-0
Prąd znamionowy 2A.