Czujnik fotoelektryczny Odległość w obudowie prostokątnej SICK NPN, PNP zakres 200 → 10 000 mm, 200 →

Dx50 to popularna platforma czujników odległości, oferująca wiele poziomów wydajności. Dzięki zakresom pomiarowym do 10 m lub 20 m na obiektach lub nawet do 50 m przy pomiarze na reflektorze, Dx50 nadaje się do wielu różnych zastosowań. Dzięki dostępności interfejsu przełączania, analogowego lub szeregowego urządzenie Dx50 można łatwo zintegrować w dowolnym środowisku zastosowań. Również intuicyjna koncepcja działania i widoczny czerwony laser pozwalają na szybką instalację czujników.

Dzięki innowacyjnej technologii HDDM urządzenie Dx50 zapewnia doskonałą niezawodność, odporność na światło otoczenia i precyzję podczas użytkowania. Oferując wyjątkowo dobry stosunek ceny do wydajności, Dx50 jest właściwym rozwiązaniem w wielu przypadkach.

Najwyższa niezawodność, odporność na światło otoczenia i stosunek ceny do wydajności dzięki technologii HDDM
Zasięgi pomiarowe 10 m lub 20 m bezpośrednio na obiekcie lub 50 m na reflektorze
Różne poziomy wydajności w zależności od produktu i klasy lasera
Różne interfejsy: cyfrowe, analogowe lub szeregowe
Wyświetlacz o intuicyjnej i spójnej koncepcji obsługi
Wytrzymała obudowa z odlewu cynkowego
Szeroki zakres temperatur pracy od -30°C do +65°C

Szeroki zakres pomiarowy do 10, 20 lub 50 m w połączeniu z różnymi interfejsami umożliwia łatwą i szybką integrację
w dowolnym środowisku produkcyjnym
Bardzo niezawodny i precyzyjny pomiar pomaga zwiększyć jakość i stabilność procesu
Wysoka częstotliwość pomiaru lub przełączania umożliwia szybki przepływ materiału
Seria produktów Dx50 opiera się na wspólnej platformie, która oferuje wiele poziomów wydajności, co ułatwia dostosowanie do przyszłych zmian
Intuicyjna konfiguracja za pośrednictwem wyświetlacza lub zdalnego uczenia zmniejsza czas i koszty instalacji
Zakres temperatur od -30°C do +65°C umożliwia użytkowanie na zewnątrz bez dodatkowego chłodzenia lub ogrzewania
Odporność na światło otoczenia do 40 klx — umożliwia użycie w trudnych pod względem optycznym środowiskach

Sprawdzanie podzespołów przy użyciu czujników odległości
Kontrola jakości za pomocą czujników odległości
Zabezpieczenie dostępu z rozróżnieniem między osobami i materiałem
Sterowanie pętlą: pomiar pętli i prędkości
Monitorowanie poziomu w pojemniku
Rozwijanie cewki arkusza
Rozwijanie cewki arkusza
Pozycjonowanie osi x i y jednostki napędowej i podnoszącej
Pozycjonowanie jednostki podnoszącej za pomocą czujnika odległości
Pomiar wysokości mostu pasażerskiego
Rejestrowanie ruchu przedłużającego i wkręcającego mostka pasażerskiego
Wykrywanie położenia i obecności kabli zawieszonych
Określanie średnicy rolki
Pionowe umieszczanie dźwigów w magazynach
Zapobieganie zderzeniom dźwigów podczas manipulacji materiałami
Właściwe położenie dźwigów nad głową wewnątrz magazynu
Pomiar odległości umożliwiający obsługę wielu płytek podczas logistyki poprodukcyjnej
Pozycjonowanie gorących płyt na stole rolkowym przed walcowaniem
Wykrywanie wlewów, wybiegów, pustych elementów i profili w procesie walcowania na gorąco
Kontrola szerokości i średnicy cewek podczas nawijania
Klasyfikacja średnic cewki po procesie nawijania
Wykrywanie obecności ładowarki przy elektrycznym piecu łukowymce
Wykrywanie obecności i przedniej krawędzi w piecu podczas ciągłego odlewania
Pozycjonowanie latarki tlenowej podczas ciągłego odlewania
Wykrywanie produktów na maszynach przetwórczych podczas logistyki poprodukcyjnej
Monitorowanie poziomu w czerwonym zbiorniku na osady
Zapobieganie kolizjom podczas podnoszenia desek rozdzielczych
Sterowanie pętlą: pomiar pętli i prędkości